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results search [or] ISN:0000000032585868 | 1 hits
Person
ISNI: 
0000 0000 3258 5868
Name: 
Jouffrey, B.
Jouffrey, Bernard
Creation class: 
Language material
Text
Creation role: 
author
editor
Related names: 
Bourret, Alain
Colliex, Christian
Conférence européenne sur les matériaux et les procédés avancés 06 1999
Congrès international de microscopie électronique 13 1994
Favard, Pierre (1931-1988)
Murry, Guy
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Société française des microscopies
Univ. Lyon
Titles: 
CONTRIBUTION A L'ETUDE DU DURCISSEMENT DANS LES ALLIAGES LEGERS : APPROCHE ATOMIQUE DANS LE CAS DE L'ALUMINIUM-CUIVRE
CONTRIBUTION A L'ETUDE "IN SITU" DU GLISSEMENT ET DE LA MONTEE DES DISLOCATIONS DANS UN COMPOSE SEMICONDUCTEUR (3/5) : INSB
Contribution for nanotubes study : structure and contrasts in electron microscopy, tangles and mechanical behaviour.
Cours de l'école de microscopie électronique en science des matériaux, Bombannes 1981
Effects of crystal orientation and interferometry in electron energy loss spectroscopy.
Electron microscopy 1994 : proceedings of the 13th international congress on electron microscopy, held in Paris (France), 17-22 july 1994
EMISSION DE CHAMP ELECTRONIQUE ET IONIQUE : REMODELAGE D'UNE SOURCE ELECTRONIQUE, DYNAMIQUE D'UNE SOURCE IONIQUE A METAL LIQUIDE
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Intérêt des tests cutanés systématiques dans le dépistage des affections allergiques respiratoires de l'adulte jeune
Matériaux métalliques
Méthodes et techniques nouvelles d'observation en métallurgie physique
Microscopie électronique à effet tunnel : contribution à l'étude du rôle de la pointe
Microscopie électronique à haute tension 1975 : textes des communications présentées au 4e congrès international, Toulouse, 1-4 septembre 1975
Microstructural investigation and analysis
Nanotubes de nitrure de Bore produits par chauffage laser non-ablatif : synthèse, caractérisation et mécanismes de croissance : synthesis, characterisation and growth processes
Observations of defects and structure from optic and electronic microscopy in liquid cristal polymers.
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Piezoresistive and thermal properties of thick-film screen printed inks : pressure sensors applications.
Quantitative, numerical transmission electron microscopy : design of a tool for interactive image acquisition, simulation and analysis.
Scanning tunneling microscopy : contribution to the study of the tip influence.
Stabilité sous irradiation de particules d'oxydes finement dispersées dans des alliages ferritiques
Stability under irradiation of a fine dispersion of oxides in a ferritic matrix.
techniques de l'ingénieur
Notes: 
Diss. Univ. Lyon, 1974
Sources: 
BOWKER